IEC 61954:2011 definieert type-, productie- en optionele tests op thyristorkleppen die worden gebruikt in thyristorgestuurde reactoren (TCR), thyristorgeschakelde reactoren (TSR) en thyristorgeschakelde condensatoren (TSC) die deel uitmaken van statische VAR-compensatoren (SVC) voor energiesysteemtoepassingen. De eisen van de norm zijn zowel van toepassing op enkele klepeenheden (één fase) als op meervoudige klepeenheden (meerdere fasen). Deze editie bevat de volgende belangrijke technische wijzigingen ten opzichte van de vorige editie: a) De definities van termen ' thyristorniveau' , ' klepgedeelte' , ' klepbasiselektronica' en ' redundante thyristorniveaus' zijn ter verduidelijking gewijzigd b) Er zijn voorwaarden gedefinieerd voor het testen van thyristorklepsecties in plaats van een volledige thyristorklep c) De eis is toegevoegd dat indien na een typekeuring één thyristorniveau is kortgesloten, het gefaalde niveau wordt hersteld en deze typekeuring wordt herhaald d) De tijdsduur van het verhogen van de initiële testspanning van 50% naar 100% tijdens type a.c. diëlektrische testen op TSC-, TCR- of TSR-kleppen is gelijk gesteld aan ongeveer 10 s e) De duur van de testspanning U< sub> ts2< / sub> tijdens type a.c.-d.c. diëlektrische tests tussen TSC-klepaansluitingen en aarde, evenals de duur van de testspanning U< sub> tvv2< / sub> tijdens diëlektrische tests tussen TSC-kleppen (alleen voor MVU) is gewijzigd van 30 min naar 3 uur f) De referentie van het aantal pulsen per minuut van de periodieke partiële ontlading geregistreerd tijdens a.c.-d.c. diëlektrische tests op TSC-kleppen en overschrijding van het toegestane niveau zijn verwijderd.