Dieses Dokument spezifiziert die Anwendung der Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS) zur Bestimmung der spezifischen Oberfläche. Sowohl die massenspezifische Oberfläche in der Größenordnung von 1 m²g^-1 als auch 2 000 m²g^{-1< / sup> und die volumenspezifischen Oberflächen liegen im Bereich von 0,01 m2cm-3 bis 1 000 m2cm -3 kann erhalten werden.}

Die beschriebene Methode ist auf verdünnte und konzentrierte Systeme anwendbar.

HINWEIS:      In ISO 17867:2020 ist die Bestimmung der Partikelgröße durch SAXS auf verdünnte Systeme beschränkt.

Die Bestimmung von Oberflächen mit SAXS ist nur für Zweiphasensysteme unkompliziert. Die Oberflächenbestimmung in Systemen mit mehr als zwei Phasen geht über den Rahmen dieses Dokuments hinaus.

Der Begriff „Oberfläche“ bezieht sich auf jede Grenzfläche zwischen Domänen unterschiedlicher Dichte (genauer: Elektronendichte) und ist nicht auf die äußere Oberfläche von Partikeln beschränkt. Da alle Grenzflächen zwischen Bereichen mit unterschiedlicher Elektronendichte, nicht nur zu Luft oder Vakuum, untersucht werden können, kann die Methode auf jedes heterogene System angewendet werden.

SAXS misst nicht nur die spezifische Oberfläche offener Poren, sondern auch unzugänglicher, geschlossener Poren oder Einschlüsse.

HINWEIS:      Dies steht im Gegensatz zu Gassorptionsmethoden, die in ISO 9277:2010 beschrieben sind.

Zusätzlich zu porösen Systemen kann es auch Beiträge interner Grenzflächen zur gemessenen spezifischen Oberfläche jedes heterogenen kompakten Festsystems geben, beispielsweise zwischen kristallinen und amorphen Phasen, sofern ein Elektronendichtekontrast besteht. Obwohl auch Materialien mit Mikroporen (Porenweite & lt  2 nm) mit SAXS hinsichtlich ihrer spezifischen Oberfläche analysiert werden können, werden diese Materialien in diesem Dokument nicht behandelt.