Metallische und andere anorganische Überzüge - Übersicht über Verfahren zur Schichtdickenmessung (ISO 3882:2003)
Diese Internationale Norm enthält eine Übersicht über Verfahren zur Messung der Dicke metallischer und anderer anorganischer Schichten auf metallischen und nichtmetallischen Grundwerkstoffen (siehe Tabellen 1, 2 und 3). Sie beschränkt sich auf in Internationalen Normen bereits erfasste oder noch zu erfassende Verfahren ausgeschlossen werden Verfahren, die für besondere Anwendungen vorgesehen sind.Tabelle 1 - Verfahren zur Messung der SchichtdickeZerstörungsfrei ZerstörendVerfahren mit Lichtschnittmikroskop, ISO 2128a Mikroskopisches (optisches) Verfahren, ISO 1463Magnetische Verfahren, ISO 2178 und ISO 2361 Mehrstrahlinterferometrisches Verfahren nach Fizeau, ISO 3868b Wirbelstromverfahren, ISO 2360 Profilometrisches Verfahren (Tasterverfahren), ISO 4518bRöntgenspektrometrisches Verfahren, ISO 3497 Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop, ISO 9220Betarückstreuverfahren, ISO 3543 Auflöseverfahren:Gravimetrisches Verfahren mit Ablösen und Wägen sowie analytisches gravimetrisches Verfahren, ISO/ DIS 10111Coulometrisches Verfahren, ISO 2177a Bei einigen Anwendungen möglicherweise zerstörend.b Bei einigen Anwendungen möglicherweise zerstörungsfrei.
View in
