NBN EN ISO 9220:2022

Dit document specificeert een destructieve methode voor het meten van de lokale dikte van metallische en andere anorganische coatings door dwarsdoorsneden te onderzoeken met een scanning elektronenmicroscoop (SEM). De methode is toepasbaar voor diktes tot enkele millimeters, maar voor dergelijke dikke coatings is het meestal praktischer om een lichtmicroscoop te gebruiken (zie ISO 1463). De onderste diktegrens is afhankelijk van de bereikte meetonzekerheid (zie hoofdstuk 10).
OPMERKING       De methode kan ook worden gebruikt voor organische lagen wanneer ze niet worden beschadigd door de voorbereiding van de dwarsdoorsnede of door de elektronenstraal tijdens de beeldvorming.