Le présent document décrit la méthode d’essai permettant de déterminer les contraintes résiduelles dans les matériaux polycristallins par la méthode de diffraction des rayons X au synchrotron. La méthode peut être appliquée aux matériaux homogènes et non homogènes, y compris ceux contenant des phases distinctes.
Des informations sont fournies sur la manière de réaliser les évaluations des contraintes résiduelles par la technique de diffraction des rayons X au synchrotron en ce qui concerne :
— la sélection appropriée de plans réticulaires de diffraction sur lesquels il convient d’effectuer des mesurages pour différentes catégories de matériaux
— les directions de l’éprouvette dans lesquelles il convient d’effectuer les mesurages
— le volume de matériau examiné en fonction de la taille du grain et de l’état de contrainte visé
— le choix de la référence (échantillon) sans contrainte facilitant le calcul de déformation résiduelle
— les méthodes disponibles pour calculer les contraintes résiduelles à partir des mesures de déformation.
Des modes opératoires sont présentés pour l’étalonnage des appareils de diffraction des rayons X au synchrotron, permettant :
— le positionnement et l’alignement corrects des pièces d’essai
— la définition précise du volume de matériau échantillonné aux fins des mesurages individuels
mais aussi pour :
— la réalisation des mesurages
— la réalisation des modes opératoires pour l’analyse des résultats
— la détermination de leurs incertitudes.
Les principes de la technique de diffraction des rayons X au synchrotron sont décrits et mis en perspective avec l’EN 15305:2008 et l’EN ISO 21432:2020 qui sont utilisées pour évaluer les contraintes dans la masse d’une éprouvette.