NBN EN IEC 61744:2023

IEC 61744:2023 biedt standaardprocedures voor de kalibratie van optische vezel chromatische dispersie (CD) testsets. Dit document is van toepassing op alle typen CD-testsets, behalve dat metingen aan multimode optische vezels zijn uitgesloten. Het doel van dit document is het definiëren van een standaardprocedure voor het kalibreren van optische vezel chromatische dispersie (CD) testsets. De gedetailleerde kalibratiestappen die worden gebruikt variëren afhankelijk van de meettechniek die wordt gebruikt in de CD-testset. Hoewel wordt erkend dat chromatische dispersie ook voorkomt in multimode glasvezel en deze vezel kan worden gemeten op veel cd-testsets, zal dit document de bespreking beperken tot enkelvoudige vezelmeettoepassingen. Het doel van de procedures die in dit document worden beschreven, is om fabrikanten en gebruikers van CD-testsets te richten op het verminderen van de meetonzekerheid bij de bepaling van de chromatische dispersie in optische vezels onder alle toepasselijke omstandigheden. De procedures zijn van toepassing op kalibratielaboratoria en op de fabrikanten of gebruikers van CD-testsets ten behoeve van

a) het kalibreren van cd-testsets, en

b) het evalueren van het prestatieniveau van het instrument.

Het gebruik van de procedures maakt ook een correcte evaluatie mogelijk van de onzekerheid van de CD-testset, relatief en herleidbaar tot geschikte (bijvoorbeeld nationale) normen. Deze derde editie annuleert en vervangt de tweede editie gepubliceerd in 2005. Deze editie vormt een technische herziening. Deze editie bevat de volgende belangrijke technische wijzigingen ten opzichte van de vorige editie:

a) bijgewerkte termen en definities

b) het gebruik van een referentievezelstandaard voor kalibratie is nu toegestaan en op hetzelfde niveau als de andere kalibratiemethode

c) bijlage B is opgesplitst in een nieuwe bijlage B (over kalibratieonzekerheid, nog steeds normatief) en een nieuwe bijlage C (over onzekerheid bij bedrijfsomstandigheden, informatief)

d) voormalige C.3.4 over interferometrische methode verwijderd, aangezien deze methode niet langer wordt ondersteund in IEC 60793-1-42

e) bijlage D en andere verwijzingen in de tekst naar kalibratiecompensatie verwijderd om deze in overeenstemming te brengen met andere kalibratiedocumenten

f) bijlage E en andere verwijzingen in de tekst naar het gebruik van luchtgolflengte verwijderd, aangezien deze niet wordt gebruikt in het glasvezeldomein.